光デバイス計測・評価装置

長期信頼性評価装置
非線形波長変換デバイスの長期信頼性評価

光導波路評価装置
QPM(PPMgLN)導波路の位相整合波長、変換効率、導波モードの評価

ロスプロ
NOVAWAVE社製 LossProシステム。デバイスのロス評価(1064、532、355nm)

PCI 測定装置
Stanford Photothermal Solution社製PCI-3システム。結晶材料やウエハのレーザ吸収評価(1064、532nm)
PCI 測定装置 詳細

 

♦委託測定サービス・装置入販売も対応いたします。詳細はご相談下さい。

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