お知らせ
[新製品]スペックル評価装置を追加しました
2011年04月14日
オキサイドはレーザ光源のスペックルノイズ測定器（製品名：「スペックル評価装置」）を発売します。
同装置は共同研究パートナーである東京大学生産技術研究所の久保田重夫教授が世界で初めて開発し、
オキサイドが製品化したものです。
詳しくは製品情報 測定器/コンポーネント>測定器をご覧ください。
レーザーディスプレイ技術研究会（第７回）にてスペックル評価装置のデモを行いました
2011年03月04日
レーザーディスプレイ技術研究会（第7回）にてスペックル評価装置のデモを行いました。
日時：2011年3月3日 13：00-17：00
場所：東京大学生産技術研究所・コンベンションホール
創立10周年記念シンポジウムを開催しました
2010年11月29日
11/26（金） 山梨県甲府市内にて、 創立10周年記念シンポジウム 「いま、ベンチャーに求められるもの」 を開催し、多くの方々（約150名弱）にご参加いただきました。 当日のプログラム内容は以下のpdfをご参照下さい。 “HAIFU_20101126.pdf”
DUVレーザ光源事業へ新展開, 266nmレーザ
2010年09月24日
オキサイドは2010 年10 月1 日より日本国内及び世界に向けてDUV レーザの製造・販売ならびにそのメンテナンスサービスを展開してゆきます。 詳しくは 「ＤＵＶレーザ光源事業へ新展開」 をご参照下さい。